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東大、半導体製造プロセスの現像前超高速検査技術を開発 - 日本経済新聞

 2024/08/31  引用元:日本経済新聞  続きを読む
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みんなの反応・コメント   1件

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部品(川口春奈) 2024年9月2日 8:58
日本経済新聞 nikkei.com/article/DGXZRS… 光電子顕微鏡を用いることで、検査段階を早めるだけでなく、既存手法と比較して1万倍高速な検知も可能なポテンシャルを示しました。 い、イノベーションだ!!!!

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