東大、半導体製造プロセスの現像前超高速検査技術を開発 - 日本経済新聞

2024/08/31 引用元:日本経済新聞 続きを読む
2024/08/31、『日本経済新聞』が報じたこのニュースに1件のコメントが寄せられています(2026/05/27 06:00現在)。
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みんなの反応・コメント 1件
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日本経済新聞 nikkei.com/article/DGXZRS… 光電子顕微鏡を用いることで、検査段階を早めるだけでなく、既存手法と比較して1万倍高速な検知も可能なポテンシャルを示しました。 い、イノベーションだ!!!!